要判断温度保护锂电保护 IC 是因为过电流而损坏，可以采取以下方法：

外观检查：

1. 仔细观察保护 IC 的表面，看是否有明显的烧焦、熔化或变色的痕迹。过电流可能导致局部过热，从而产生这些物理损伤。

测量电阻：

1. 使用万用表测量保护 IC 引脚之间的电阻。如果电阻值明显低于正常范围，可能表示内部电路因过电流而短路。

检查周边元件：

1. 查看与保护 IC 相连的其他元件，如电感、保险丝等。若发现这些元件有熔断、烧焦或明显损坏的情况，可能是过电流引起，并可能导致保护 IC 受损。

测量电源输入输出：

1. 测量保护 IC 的电源输入和输出引脚的电流。如果输入电流正常，但输出电流异常增大，超过了保护 IC 的额定值，可能是过电流损坏了内部电路。

功能测试：

1. 将保护 IC 连接到合适的测试电路中，施加正常的工作电压和电流，检查其是否能正常执行温度保护和电流限制功能。如果不能，则可能因过电流而损坏。

芯片分析：

1. 对于一些复杂的情况，可以通过专业的芯片分析设备，如 X 射线检测、扫描电子显微镜（SEM）等，查看芯片内部是否有因过电流导致的金属线熔断、晶体管损坏等情况。

例如，在一个便携式电子设备中，发现电池充电异常。对保护 IC 进行外观检查，发现有轻微的变色。进一步测量其输入输出电流，发现输出电流远大于正常范围，同时周边的保险丝已熔断。综合这些情况，可以初步判断该保护 IC 是因为过电流而损坏。