要判断温度保护锂电保护 IC 是否损坏，可以考虑以下几种方法：

外观检查：

1. 查看 IC 表面是否有明显的物理损坏，如裂痕、烧焦痕迹、引脚变形或腐蚀等。

测量关键引脚电压：

1. 使用万用表测量保护 IC 相关引脚的电压。与正常工作时的参考电压进行对比，如果电压异常，可能表示 IC 损坏。

温度模拟测试：

1. 使用可控温的加热设备，对电池或包含保护 IC 的电路进行加热，观察在达到预设温度阈值时，保护 IC 是否有相应的动作（如切断电路）。如果没有反应，可能是损坏了。

检查通信和信号：

1. 如果保护 IC 与其他系统组件有通信连接（如通过 I²C、SPI 等协议），可以监测通信信号是否正常，是否能正确接收和发送温度及控制相关的信息。

替换对比：

1. 用一个已知良好的相同型号的保护 IC 替换可疑的 IC 。如果替换后系统恢复正常工作，那么原来的 IC 很可能是损坏的。

功能测试设备：

1. 使用专门的集成电路功能测试设备，对保护 IC 进行全面的功能测试，以确定其是否正常工作。

监测电池工作状态：

1. 在正常使用中，观察电池是否出现过热、过充、过放等异常情况，如果保护功能失效，可能是保护 IC 损坏。

例如，对于一个电动自行车的锂电池保护系统，如果发现电池在充电时明显过热，但没有停止充电，首先可以进行外观检查，未发现异常后，使用万用表测量保护 IC 相关引脚的电压，发现电压异常，初步判断保护 IC 可能损坏。然后通过替换一个新的同型号保护 IC ，充电时过热的问题得到解决，从而确定原来的保护 IC 已经损坏。